Surface Passivation for Reliable Measurement of Bulk Electronic Properties of Heterojunction Devices
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| Descripción | artículo científico publicado en 2016 |
| Autoría |
autor: Martina Lingg Thomas Feurer Romain Carron Fabio La Mattina Stephan Buecheler |
| Fecha de publicación | 4 de agosto de 2016 |
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| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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