Filtros de búsqueda

A flexible method for the preparation of thin film samples for in situ TEM characterization combining shadow-FIB milling and electron-beam-assisted etching.

Imagen Imagen de una obra genérica. El texto sobre ella indica que no hay disponible una imagen libre de la obra, y que si posees una, puedes hacer clic en el enlace del cartel para subirla.
Descripción artículo científico publicado en 2016
Autoría
Fecha de publicación 12 de septiembre de 2016
Idioma
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor Public domain
¿Datos faltantes/errados? Editar ítem de Wikidata