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Local ion irradiation-induced resistive threshold and memory switching in Nb2O5/NbO(x) films.

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Descripción artículo científico publicado en 2014
Autoría

autor: Carsten Ronning  Thomas Mikolajick  Peter Zahn 

Fecha de publicación 30 de septiembre de 2014
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Private domain
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