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Investigating individual arsenic dopant atoms in silicon using low-temperature scanning tunnelling microscopy

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Descripción artículo científico publicado en 2014
Autoría

autor: Kitiphat Sinthiptharakoon  David R. Bowler  Steven R Schofield  Cyrus F Hirjibehedin  Neil J Curson 

Fecha de publicación 1 de enero de 2014
Idioma
País de origen
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