Probing Intrawire, Interwire, and Diameter-Dependent Variations in Silicon Nanowire Surface Trap Density with Pump-Probe Microscopy.

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Descripción	artículo científico publicado en 2017
Autoría	autor: Erik M Grumstrup  Emma E M Cating  Joseph D Christesen  John M Papanikolas
Fecha de publicación	14 de septiembre de 2017
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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