Measuring Three-Dimensional Strain and Structural Defects in a Single InGaAs Nanowire Using Coherent X-ray Multiangle Bragg Projection Ptychography.

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Descripción	artículo científico publicado en 2018
Autoría
Fecha de publicación	24 de enero de 2018
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Public domain
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