Effect of Polarization Reversal in Ferroelectric TiN/Hf0.5Zr0.5O2/TiN Devices on Electronic Conditions at Interfaces Studied in Operando by Hard X-ray Photoemission Spectroscopy

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Descripción	artículo científico publicado en 2017
Autoría	autor: Roman Kirtaev  Yury Matveyev  Andrei Zenkevich
Fecha de publicación	21 de noviembre de 2017
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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