Surface sensitivity of four-probe STM resistivity measurements of bulk ZnO correlated to XPS.
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| Descripción | artículo científico publicado en 2017 |
| Autoría |
autor: Chris J Barnett Martin W. Allen Alex M. Lord Andrew R. Barron |
| Fecha de publicación | 5 de julio de 2017 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Private domain |
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