Measuring nanometre-scale electric fields in scanning transmission electron microscopy using segmented detectors.

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Descripción	artículo científico publicado en 2017
Autoría	autor: David M. Paganin  Scott D. Findlay  Timothy C Petersen
Fecha de publicación	3 de julio de 2017
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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