Measuring thin films using quantitative frustrated total internal reflection (FTIR).
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| Descripción | artículo científico publicado en 2017 |
| Autoría |
autor: Michiel A J van Limbeek Chao Sun Minori Shirota Detlef Lohse |
| Fecha de publicación | 9 de mayo de 2017 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Private domain |
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