An Accurate Model for the Ion Current-Distance Behavior in Scanning Ion Conductance Microscopy Allows for Calibration of Pipet Tip Geometry and Tip-Sample Distance

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Descripción	artículo científico publicado en 2017
Autoría	autor: Tilman E Schäffer  Johannes Rheinlaender
Fecha de publicación	10 de octubre de 2017
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Private domain
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