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Angle-resolving time-of-flight electron spectrometer for near-threshold precision measurements of differential cross sections of electron-impact excitation of atoms and molecules.

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Descripción artículo científico publicado en 2008
Autoría

autor: Stephen Buckman 

Fecha de publicación 1 de abril de 2008
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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