Filtros de búsqueda

Direct observation and analysis of annealing-induced microstructure at interface and its effect on performance improvement of organic thin film transistors

Imagen Imagen de una obra genérica. El texto sobre ella indica que no hay disponible una imagen libre de la obra, y que si posees una, puedes hacer clic en el enlace del cartel para subirla.
Descripción artículo científico publicado en 2008
Autoría
Fecha de publicación 5 de septiembre de 2008
Idioma inglés
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor Public domain
¿Datos faltantes/errados? Editar ítem de Wikidata