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Individual Atomic Imaging of Multiple Dopant Sites in As-Doped Si Using Spectro-Photoelectron Holography.

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Descripción artículo científico publicado en 2017
Autoría

autor: Yoshitada Morikawa  Fumihiko Matsui  Kazuo Tsutsui  Toyohiko Kinoshita  Takuya Hoshii  Tomohiro Matsushita 

Fecha de publicación 4 de diciembre de 2017
Idioma
País de origen
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