Inline electron holography and VEELS for the measurement of strain in ternary and quaternary (In,Al,Ga)N alloyed thin films and its effect on bandgap energy.
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| Descripción | artículo científico publicado en 2015 |
| Autoría |
autor: Peter A van Aken Francisco M. Morales Christoph T Koch |
| Fecha de publicación | 1 de enero de 2015 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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