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Ultralow loss single layer submicron silicon waveguide crossing for SOI optical interconnect.

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Descripción artículo científico publicado en 2013
Autoría

autor: Tom Baehr-Jones  Michael Hochberg  Ran Ding  Andy Eu-Jin Lim  Ari Novack  Shuyu Yang 

Fecha de publicación 1 de diciembre de 2013
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Private domain
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