Organic depth profiling of a binary system: the compositional effect on secondary ion yield and a model for charge transfer during secondary ion emission.

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Descripción	artículo científico publicado en 2009
Autoría	autor: Martyn Davies  Morgan R. Alexander  Alexander G Shard
Fecha de publicación	1 de agosto de 2009
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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