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Time-of-flight secondary ion mass spectrometry, fluorescence microscopy and scanning electron microscopy: combined tools for monitoring the process of patterning and layer-by-layer assembly of synthetic and biological materials
artículo científico publicado en 2008
Autoría
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
26 de marzo de 2008
Idioma:
Desconocido
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio público