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Analytical method for parameterizing the random profile components of nanosurfaces imaged by atomic force microscopy
artículo científico publicado el 11 de noviembre de 2010
Autoría
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
11 de noviembre de 2010
Idioma:
inglés
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio público