Charge trapping states at the SiO2-oligothiophene monolayer interface in field effect transistors studied by Kelvin probe force microscopy

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Descripción	artículo científico publicado en 2013
Autoría	autor: Miquel B. Salmerón
Fecha de publicación	29 de agosto de 2013
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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