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Limits of detection for time of flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS): detection of low amounts of adsorbed protein
artículo científico publicado en 2002
Autoría
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
1 de enero de 2002
Idioma:
Desconocido
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio público