Organic depth profiling of a nanostructured delta layer reference material using large argon cluster ions.
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | artículo científico publicado en 2010 |
| Autoría |
autor: Ian S. Gilmore Martin P. Seah Jiro Matsuo Alexander G Shard |
| Fecha de publicación | 1 de enero de 2010 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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