Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS): A New Tool for the Analysis of Toxicological Effects on Single Cell Level

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Descripción	artículo científico publicado en 2016
Autoría	autor: Harald Jungnickel  Peter Laux  Andreas Luch
Fecha de publicación	15 de febrero de 2016
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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