Boron-Incorporating Silicon Nanocrystals Embedded in SiO2: Absence of Free Carriers vs. B-Induced Defects.
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | artículo científico publicado en 2017 |
| Autoría |
autor: Margit Zacharias J. López-Vidrier Daniel Hiller Dirk König Keita Nomoto Jan Valenta |
| Fecha de publicación | 21 de agosto de 2017 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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