Focusing Properties of X-Ray Spectrometers with 2D-Curved Crystals for Extended X-Ray Sources of Hot Plasmas

Imagen
Descripción	artículo científico publicado el 1 de enero de 1997
Autoría	autor: Schweickhard E. von Goeler
Fecha de publicación	1 de enero de 1997
Idioma	inglés
País de origen
Enlace a Wikipedia
Acceder a la obra	https://content.iospress.com/download?id=10.3233/XST-1997-7208
Estatus de derecho de autor	Private domain
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata