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Origin of defect-insensitive emission probability in In-containing (Al,In,Ga)N alloy semiconductors
artículo científico publicado en 2006
Autoría
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
3 de septiembre de 2006
Idioma:
inglés
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio público