Reflectance confocal microscopy as a second-level examination in skin oncology improves diagnostic accuracy and saves unnecessary excisions: a longitudinal prospective study

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Descripción	artículo científico publicado en 2014
Autoría	autor: Giovanni Pellacani  Caterina Longo
Fecha de publicación	19 de octubre de 2014
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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