3D ToF-SIMS imaging of polymer multilayer films using argon cluster sputter depth profiling.
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | artículo científico publicado en 2015 |
| Autoría |
autor: Ian S. Gilmore David J Scurr Rasmus Havelund James S. Sharp Morgan R. Alexander Alexander G Shard |
| Fecha de publicación | 20 de enero de 2015 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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