Exploring Two-Dimensional Transport Phenomena in Metal Oxide Heterointerfaces for Next-Generation, High-Performance, Thin-Film Transistor Technologies

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Descripción	artículo científico publicado en 2015
Autoría	autor: John Labram  Yen-Hung Lin  Thomas D. Anthopoulos
Fecha de publicación	9 de septiembre de 2015
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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