Atomic-Scale Mechanisms of Defect-Induced Retention Failure in Ferroelectrics.
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|---|---|
| Descripción | artículo científico publicado en 2017 |
| Autoría |
autor: Xiaoqing Pan Linze Li Ying-Hao Chu |
| Fecha de publicación | 11 de mayo de 2017 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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