Multitrait, Random Regression, or Simple Repeatability Model in High-Throughput Phenotyping Data Improve Genomic Prediction for Wheat Grain Yield

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Descripción	artículo científico
Autoría	autor: Jean-Luc Jannink  Mark E Sorrells  Jessica Rutkoski  Jesse Poland
Fecha de publicación	1 de julio de 2017
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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