Use of atomic force microscopy (AFM) to explore cell wall properties and response to stress in the yeast Saccharomyces cerevisiae.

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Descripción	artículo científico publicado en 2013
Autoría	autor: Helene Martin-Yken  Cécile Formosa-Dague  Etienne Dague
Fecha de publicación	27 de septiembre de 2013
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