Comparative advantages and limitations of the basic metrology methods applied to the characterization of nanomaterials

Imagen
Descripción	artículo científico publicado el 9 de agosto de 2013
Autoría
Fecha de publicación	9 de agosto de 2013
Idioma	inglés
País de origen
Enlace a Wikipedia
Acceder a la obra	http://pubs.rsc.org/en/content/articlepdf/2013/NR/C3NR02372A
Estatus de derecho de autor	Public domain
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata