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Disturbed Experience of Self: Psychometric Analysis of the Self-Experience Lifetime Frequency Scale (SELF).

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Descripción
Autoría

autor: Wiepke Cahn  René Kahn  Jim van Os  Lieuwe de Haan  Inez Myin-Germeys  Richard Bruggeman 

Fecha de publicación 19 de marzo de 2016
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Private domain
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