Coherent X-ray beam metrology using 2D high-resolution Fresnel-diffraction analysis
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| Descripción | artículo científico publicado en 2017 |
| Autoría |
autor: Makina Yabashi Nicholas Hartley Sergey Pikuz Yoshinori Tange Kazuo A Tanaka Ryosuke Kodama Toshinori Yabuuchi Tetsuya Ishikawa |
| Fecha de publicación | 1 de enero de 2017 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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