High-Resolution Correlative Microscopy: Bridging the Gap between Single Molecule Localization Microscopy and Atomic Force Microscopy.

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Descripción	artículo científico publicado en 2015
Autoría	autor: Adrian Pascal Nievergelt  Pascal D Odermatt
Fecha de publicación	6 de julio de 2015
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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