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Practical Issues for Atom Probe Tomography Analysis of III-Nitride Semiconductor Materials

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Descripción artículo científico publicado en 2015
Autoría

autor: Paul A J Bagot  Tomas L. Martin  Menno J Kappers  Fengzai Tang  Rachel Angharad Oliver  Michael Moody 

Fecha de publicación 30 de abril de 2015
Idioma
País de origen
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