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High-throughput screening of thin-film semiconductor material libraries I: system development and case study for Ti-W-O.

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Descripción artículo científico publicado en 2015
Autoría

autor: Wolfgang Schuhmann  Kirill Sliozberg  Dominik Schäfer  Alfred Ludwig  Thomas Erichsen 

Fecha de publicación 27 de febrero de 2015
Idioma
País de origen
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