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Mapping of trap densities and hotspots in pentacene thin-film transistors by frequency-resolved scanning photoresponse microscopy.
artículo científico publicado en 2013
Autoría
Detalles de la obra
Fecha de publicación:
25 de junio de 2013
Idioma:
inglés
País de origen:
Desconocido
Estado de los derechos de autor
Dominio público