Spectroscopic ellipsometry and polarimetry for materials and systems analysis at the nanometer scale: state-of-the-art, potential, and perspectives.
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| Descripción | artículo científico publicado en 2009 |
| Autoría |
autor: K Fleischer Christoph Cobet Giovanni Bruno Kurt Hingerl Maria Losurdo Razvigor Ossikovski |
| Fecha de publicación | 12 de junio de 2009 |
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| País de origen | |
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