The electron spectro-microscopy beamline at National Synchrotron Light Source II: A wide photon energy range, micro-focusing beamline for photoelectron spectro-microscopies

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Descripción	artículo científico publicado el 1 de febrero de 2012
Autoría
Fecha de publicación	1 de febrero de 2012
Idioma	inglés
País de origen
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Acceder a la obra	https://pubs.aip.org/aip/rsi/article-pdf/doi/10.1063/1.3681440/15743848/023102_1_online.pdf
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