Scanning Near-Field Ellipsometry Microscopy: imaging nanomaterials with resolution below the diffraction limit

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Descripción	artículo científico publicado en 2010
Autoría	autor: Holger Schönherr  G. Julius Vancso
Fecha de publicación	1 de noviembre de 2010
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Private domain
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