Transmission electron microscopy characterization of Au/Pt/Ti/Pt/GaAs ohmic contacts for high power GaAs/InGaAs semiconductor lasers.

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Descripción	artículo científico publicado en 2010
Autoría	autor: Peter A van Aken  Jerzy Kątcki  Jacek Ratajczak
Fecha de publicación	1 de marzo de 2010
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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