Combined atomic force microscope-based topographical imaging and nanometer-scale resolved proximal probe thermal desorption/electrospray ionization-mass spectrometry

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Descripción	artículo científico publicado en 2011
Autoría	autor: Gary J. Van Berkel  Stephen Jesse
Fecha de publicación	6 de junio de 2011
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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