Imaging dielectric properties of Si nanowire oxide with conductive atomic force microscopy complemented with femtosecond laser illumination

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Descripción	artículo científico publicado en 2008
Autoría	autor: Costas P Grigoropoulos  Emmanuel Spanakis
Fecha de publicación	29 de mayo de 2008
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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