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Imaging thin films of nanoporous low-k dielectrics: comparison between ultramicrotomy and focused ion beam preparations for transmission electron microscopy

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Descripción artículo científico publicado en 2006
Autoría

autor: Matthew R Phillips 

Fecha de publicación 1 de abril de 2006
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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