The formation and utility of sub-angstrom to nanometer-sized electron probes in the aberration-corrected transmission electron microscope at the University of Illinois.

Imagen
Descripción	artículo científico publicado en 2010
Autoría	autor: Jian-Min Zuo  Ivan Petrov
Fecha de publicación	26 de febrero de 2010
Idioma
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor	Private domain
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata