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50-nm-resolution full-field X-ray microscope without chromatic aberration using total-reflection imaging mirrors

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Descripción artículo científico publicado en 2017
Autoría

autor: Makina Yabashi  Kazuto Yamauchi  S Matsuyama  Yoshiki Kohmura  Tetsuya Ishikawa 

Fecha de publicación 13 de abril de 2017
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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