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Modeling charged defects, dopant diffusion and activation mechanisms for TCAD simulations using kinetic Monte Carlo

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Descripción artículo científico publicado en 2006
Autoría

autor: Pedro Castrillo  Ruth Pinacho  Ignacio Martin-Bragado  J. Rubio  Martín Jaraíz 

Fecha de publicación diciembre 2006
Idioma
País de origen
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