Serial section scanning electron microscopy (S3EM) on silicon wafers for ultra-structural volume imaging of cells and tissues - Dominio Público Uruguay

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Serial section scanning electron microscopy (S3EM) on silicon wafers for ultra-structural volume imaging of cells and tissues

artículo científico publicado en 2012

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 2012

Idioma: inglés

País de origen: Desconocido

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